Особенности получения танталосодержащих покрытий на титане методом магнетронного напыления

А.И. Шумилин ORCID logo , А.М. Захаревич, А.А. Скапцов, А.А. Фомин показать трудоустройства и электронную почту
Получена 23 сентября 2021; Принята 30 ноября 2021;
Цитирование: А.И. Шумилин, А.М. Захаревич, А.А. Скапцов, А.А. Фомин. Особенности получения танталосодержащих покрытий на титане методом магнетронного напыления. Письма о материалах. 2022. Т.12. №1. С.15-20
BibTex   https://doi.org/10.22226/2410-3535-2022-1-15-20

Аннотация

Танталосодержащее покрытие со сверхтвердыми включениямиИсследованы танталосодержащие покрытия, напыленные на титан в вакууме. Для нанесения пленок применялся магнетрон постоянного тока со сбалансированной магнитной системой. В качестве мишени использовался листовой тантал высокой чистоты (99.99 %). Плотность тока тлеющего разряда при травлении мишени составила 20.4 A / м2. Плазмообразующими газами были аргон или смесь аргона и кислорода. Были получены три типа покрытий тантала на титане: первый — оксид тантала на титане, второй — тантал на титане, третий — тантал на титане с подслоем оксида тантала. Изучалось влияние предварительно осажденного подслоя оксида тантала на твердость и морфологию системы «основа-покрытие». Установлено, что наибольший практический интерес представляет кислородно-насыщенное покрытие тантала толщиной 800 нм, напыленное на подслой оксида тантала толщиной 75 – 80 нм. При наноиндентировании образцов с танталосодержащим покрытием без подслоя оксида тантала выявлено увеличение твердости до 39 ГПa и модуля упругости до 194 ГПa. В случае нанесенного подслоя оксида тантала твердость при наноиндентировании достигла 60 ГПa, модуль упругости — 230 ГПa. Такая сверхтвердая двухслойная структура имела бимодальное распределение твердости и содержала фазу Ta2O с кубической кристаллической решеткой. При этом доля измерений, приходящихся на сверхтвердые включения, составляла не менее 43 %. Покрытие имело гетерогенную структуру, состоящую из агломератов с размером 0.4 – 0.5 мкм. Химический состав поверхностного слоя характеризовался содержанием кислорода 17.46 ат.%, титана — до 2.00 ат.% и тантала — 80.54 ат.%. Наблюдалось увеличение доли агломератов покрытия размером 0.2 – 0.3 мкм с 53.13 до 68.25 % при использовании подслоя оксида тантала. Полученные результаты позволяют считать разработанный процесс получения покрытий перспективным для нанесения функциональных слоев на титановые медицинские изделия.

Ссылки (22)

1. M. Fomina, V. Koshuro, A. Shumilin, A. Voyko, A. Zakharevich, A. Skaptsov, A. Steinhauer, A. Fomin. Compos. Struct. 234, 11688 (2020). Crossref
2. M. Kaur, K. Mater. Sci. Eng. C. 102, 844 (2019). Crossref
3. X. Wang, B. Ning, X. Pei. Colloids Surf. B. 208, 112055 (2021). Crossref
4. H. Chouirfa, H. Bouloussa, V. Migonney, C. Falentin-Daudre. Acta Biomater. 83, 37 (2019). Crossref
5. H.-L. Huang, M.-T. Tsai, Y.-J. Lin, Y.-Y. Chang. Thin Solid Films. 688, 137268 (2019). Crossref
6. L.-Y. Shi, A. Wang, F.-Z. Zang, J.-X. Wang, X.-W. Pan, H.-J. Chen. Colloids Surf. B. 160, 22 (2017). Crossref
7. M. S. Morgunov, V. V. Kuznetsov, M. V. Ershov. Biomed Eng. 52 (3), 169 (2018). Crossref
8. A. N. Zelikman, B. G. Korshunov, A. V. Elyutin, A. M. Zakharov. Niobium and Tantalum. Moscow, Metallurgy (1990) 296 p. (in Russian) [А. Н. Зеликман, Б. Г. Коршунов, А. В. Елютин, А. М. Захаров. Ниобий и тантал. Москва, Металлургия (1990) 296 с.].
9. D. N. Makeev, O. V. Zakharov, A. N. Vinogradov, A. V. Kochetkov. Mater. Sci. Eng. 116, 012023 (2016). Crossref
10. W. Sakiew, P. Schwerdtner, M. Jupe, A. Pflug, D. Ristau. J Vac Sci Technol A. 39, 063402 (2021). Crossref
11. D. Liu, J. Ni, J. Ye, X. Ni, X. Zhu, Z. Zhang, R. Liu, Q. Zhao. J Test Eval. 49 (6), (2021). Crossref
12. V. Koshuro, M. Fomina, A. Fomin, I. Rodionov. Compos. Struct. 196, 1 (2018). Crossref
13. M. Fomina, V. Koshuro, V. Papshev, I. Rodionov, A. Fomin. Data Brief. 20, 1409 (2018). Crossref
14. N. Villa, D. A. Golosov, S. N. Melnikov, T. D. Nguyen, A. D. Golosov, E. E. Litvin, N. N. Lam. PFMT. 1 (42), 12 (2020).
15. J. S. V. Chandra, S. Uthanna, G. Mohan Rao. Appl. Surf. Sci. 254 (7), 1953 (2008). Crossref
16. V. A. Zhabrev, Yu. A. Bystrov, L. P. Efimenko, A. E. Komlev, V. G. Baryshnikov, A. A. Kolomitsev, V. I. Shapovalov. Tech. Phys. Lett. 30 (5), 396 (2004). Crossref
17. K. Lejaeghere, V. Speybroeck, G. Oost, S. Cottenier. Crit. Rev. Solid State Mater. Sci. 39 (1), 1 (2014). Crossref
18. S. Steeb, J. Renner, J. Less. Common Met. 9, 181 (1965). Crossref
19. R. W. G. Wyckoff. Cryst. Struct. 1, 7 (1963).
20. A. Arakcheeva, G. Chapuis, V. Grinevitch. Acta Crystallographica Section B. 58 (1), 1 (2002). Crossref
21. C. Hertl, L. Koll, T. Schmitz, E. Werner, U. Gbureck. Mater. Sci. Eng. C. 41, 28 (2014). Crossref
22. D. Bernoulli, U. Müller, M. Schwarzenberger, R. Hauert, R. Spolenak. Thin Solid Films. 548, 157 (2013). Crossref

Финансирование на английском языке