Полевая ионная микроскопия металлических интерфейсов после радиационного воздействия

На основании результатов, полученных методом полевой ионной микроскопии, проведен анализ атомного строения граничной области металлических интерфейсов после различного радиационного воздействия. В процессе изучения атомного строения планарных дефектов в металлических материалах после облучения пучками ускоренных ионов Ar+ до энергии Е=30-40 keV и быстрыми нейтронами флюенсом F = 6.7х1022 m-2 установлено различное атомное строение их граничной области. Показано, что в сплавах Pd50Cu30Ag20 (вес. %) и Cu3Au после инициированных в них ионным облучением (пучками ионов Ar+) структурных фазовых превращений, ширина граничной области межфазных металлических интерфейсов соответствует ширине граничной области межфазных границ в этих сплавах после термических и термомеханических обработок. Обнаружено, что ширина граничной области металлических интерфейсов изменяется в зависимости от типа радиационного воздействия и исследуемого металлического материала. Экспериментально продемонстрировано, что в металлической Pt, как после облучения быстрыми нейтронами флюенсом F = 6.7х1022 m-2, так и после воздействия ускоренными до 30 keV пучками газовых ионов (Ar+), флюенсом (F) - 1016 ion/m2 и плотностью ионного тока j=200 /cm2 граничная область имеет включения типа вакансионных кластеров, но с присутствием некоторого количества атомов материала. Проведенная оценка таких включений показывает, что это эллипсоидальные образования шириной не более 3-4 nm и длиной порядка 5 nm. Установлено, что параметры межфазных интерфейсов твердых растворов, которые являются результатом облучения, идентичны параметрам межфазных границ, образовавшихся после термических обработок.